شاركنا تاريخ ميلادك!
تاريخ الميلاد
تاريخ الميلاد المدخل غير مكتمل يرجى ادخال تاريخ ميلاد صحيح
×
Thermal Testing of Integrated Circuits by Josep Altet, Antonio Rubio - Hardcover
493.50 درهم

Thermal Testing of Integrated Circuits by Josep Altet, Antonio Rubio - Hardcover

كن أول من يقيِّم هذا المنتج 

493.50 درهم 

  - ستوفر -493.50 درهم
الأسعار تشمل ضريبة القيمة المضافة  التفاصيل
الشحن مجاني التفاصيل
رقم ال ISBN
9781402070761
الفئات
التكنولوجيا الصناعية
الكاتب
Josep Altet, Antonio Rubio
الناشر
Springer
الوصف:

Integrated circuits (IC's) have undergone a significant evolution in terms of complexity and performance as a result 'of the substantial advances made in manufacturing technology. Circuits, in their various mixed formats, can be made up tens or even hundreds of millions of devices. They work at extremely low voltages and switch at very high frequencies. Testing of circuits has become an ...

تشحن من الولايات المتحدة
اشحن الى دبي (تغيير المدينة)
التوصيل خلال السبت ٤ أغسطس - الأحد ٥ أغسطس الي دبي

حالة السلعة:
جديدة
البائع:
InternationalBookStore (87% تقييم ايجابي)

معلومات المنتج

  •  

    المواصفات

    رقم ال ISBN
    9781402070761
    الفئات
    التكنولوجيا الصناعية
    اللغات
    الانجليزية
    الرقم المميز للسلعة
    2724432027357
    المؤلفين
    الكاتب
    Josep Altet, Antonio Rubio
    رقم ال ISBN
    9781402070761
    الفئات
    التكنولوجيا الصناعية
    اللغات
    الانجليزية
    الرقم المميز للسلعة
    2724432027357
    المؤلفين
    الكاتب
    Josep Altet, Antonio Rubio
    المؤلفين
    الناشر
    Springer
    معلومات تقنية
    غلاف الكتاب
    غلاف صلب
    اللغات والبلدان
    لغة الكتاب
    الانجليزية
    إقرأ المزيد
  •  

    الوصف:

    Integrated circuits (IC's) have undergone a significant evolution in terms of complexity and performance as a result 'of the substantial advances made in manufacturing technology. Circuits, in their various mixed formats, can be made up tens or even hundreds of millions of devices. They work at

    Integrated circuits (IC's) have undergone a significant evolution in terms of complexity and performance as a result 'of the substantial advances made in manufacturing technology. Circuits, in their various mixed formats, can be made up tens or even hundreds of millions of devices. They work at extremely low voltages and switch at very high frequencies. Testing of circuits has become an essential process in IC manufacturing, in the effort to ensure that the manufactured components have the appropriate levels of quality. Along with the ongoing trend towards more advanced technology and circuit features, major testing challenges are continuously emerging. The use of ambivalent procedures to test the analogue and digital sections of such complex circuits without interfering in their nominal operation is clearly a critical part of today's technological ipdustries. Chapter 1 presents the general purposes and basic concepts rel ted With' the"testing of integrated circuits, discussing the various strategies and their limitations. Readers who are already familiar with the field may opt to skip this chapter. This book offers a multidisciplinary focus on thermal testing. This is a testing method which is not only suitable for use in combination with other existing techniques, but is also backed by a wealth of knowledge and offers exciting opportunities in the form of as yet unexplored areas of research and innovation for industrial applications.

    خصائص المنتج:
    • الفئات: التكنولوجيا الصناعية
    • غلاف الكتاب: غلاف صلب
    • لغة الكتاب: الانجليزية
    • الكاتب: Josep Altet, Antonio Rubio
    • الناشر: Springer
    • رقم ال ISBN: 9781402070761
    • عدد الصفحات: 204
    • لأبعاد (الارتفاع*العرض*العمق): 9.96 x 6.32 x 0.57 inches
 

تقييمات المستخدمين

0
لا يوجد تقييمات بعد
كن أول من يقيِّم هذا المنتج
قيِّم هذا المنتج:

إعلانات مُموَّلة لك

×

الرجاء تأكيد رقم هاتفك الجوال لإكمال عملية الشراء

سنقوم بإرسال رسالة نصية تحتوي على رمز التفعيل، الرجاء التأكد من رقم هاتفك الجوال ادناه، ثم انقر على زر "أرسل رمز التفعيل".